北京飛凱曼科技公司提供2維平面成像應(yīng)力雙折射測(cè)試儀，能夠快速、精準(zhǔn)測(cè)量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。 我們針對(duì)相位差差別比較小的樣品，要求測(cè)量速度高的應(yīng)用，專門開發(fā)了PA系列小相位差高速型應(yīng)力雙折射測(cè)試儀，其關(guān)鍵是測(cè)量速度快。 技術(shù)參數(shù)： 型號(hào) PA-110 PA-110-L PA-micro 特點(diǎn) 快速型 大面積型 顯微型 典型應(yīng)用 玻璃、藍(lán)寶石、SiC、GaN等晶體 傳感器 標(biāo)準(zhǔn)偏振成像傳感器 成像像素 約97萬(wàn)像素 測(cè)量范圍 0-130nm 重復(fù)性 <1.0nm 測(cè)量波長(zhǎng) 520nm 尺寸 310x395x605.5mm 450x538x915.5mm 240×400×530mm 觀測(cè)到的較大面積 11×14 至100×136mm 14×18至230×300mm 100×130至1000×1300μm 重量 18kg 24kg 10kg 應(yīng)用領(lǐng)域： 玻璃，顯示組件，注塑塑料件，拉伸纖維，光纖器件，微影手提袋，鏡片毛坯，鏡片，硅片，礦產(chǎn)，激光晶體，液態(tài)晶體，雙折射晶體等 詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢我們。